novy - Czw 23 Kwi, 2009 Temat postu: Canon - pomiar matrycowy + blokada ekspozycji Jak pewnie wielu wiadomo jeśli włączymy w Canonie (nie wiem jak jest w innych lustrzankach) pomiar matrycowy i wciśniemy AE Lock (*) to światło zostanie zmierzone dla aktywnego punktu AF. Czy ktoś z Was wie jaki procent kadru obejmuje ten pomiar? Czy pomiar jest jednolity w określonym obszarze czy może ważony? Kocur - Czw 23 Kwi, 2009 Nie wiem jak w "jedynkach", tam zdaje się tak jest, ale mam wrażenie że w niższych modelach jeśli zablokujesz ekspozycję przy pomiarze matrycowym, to zostanie tak właśnie zmierzona, a nie w konkretnym punkcie... Nigdy się jakoś nad tym nie zastanawiałem, ale to idzie sprawdzić, zaraz zobaczę jak ma 50D 
krisv740 - Czw 23 Kwi, 2009 novy, np.w eos3 /analog/ 21 pól - ze szczególnym uwzględnieniem pola aktywnego AF... nie ma przedstawionych algorytmów pomiaru - tajemnica canon??? a to ustawienia w 40d - przypisanie pomiaru do punktów AF: 
novy - Czw 23 Kwi, 2009 W instrukcji do mojego 400D i 40D jest tak to opisane: AE Lock effects - Evaluative metering - AE lock is applied at the selected AF point [ Dodano: Czw 23 Kwi, 2009 20:39 ] krisv740, no tak właśnie przypuszczam że to jest jakiś magiczny algorytm w którym bierze udział cała matryca. Kocur - Czw 23 Kwi, 2009 OK, w 50D też tak jest Na pewno jest to uśredniane, tyle że ze wskazaniem na ten punkt, bo czas migawki jaki mi wychodzi przy robieniu pomiaru przy pomiarze matrycowym i wybranym punkcie AF znacząco się różni od tego co jest pokazywane przy pomiarze punktowym. Pokazuje za to te same czasy co przy pomiarze skupionym, więc to pewnie działa podobnie, tylko nie ze wskazaniem na centrum, a na konkretny punkt AF. Tyle z moich szybkich testów i obserwacji Pomiar skupiony ma w Canonach ok. 8-10% powierzchni kadru, więc to pewnie coś w tym stylu.
krisv740 - Czw 23 Kwi, 2009 jedna uwaga - na pewno tak jak w 3 , "pole priorytetowe" , w formie połączonych plastrów miodu, zmienia swoje położenie w zależności od aktywnego pola AF . od pięciu do mniej więcej siedmiu pól pomiaru /plastrów/. - na czujnik AF /jeden/ edmun - Czw 23 Kwi, 2009 krisv740, rozbroił mnie twój screenshot 
krisv740 - Czw 23 Kwi, 2009 edmun, dlaczemu  
novy - Pią 24 Kwi, 2009 Kocur, Dzięki za poświęcenie czasu na testy i dogłębną analizę 
Kocur - Pią 24 Kwi, 2009 novy, nie ma za co Ale nie daję głowy, że wnioski są prawidłowe 
novy - Pią 24 Kwi, 2009
Prawdę znają tylko Panowie z Canona, my możemy tylko się jej domyślać
[ Dodano: Pią 24 Kwi, 2009 22:51 ] A tak na marginesie, pomiar punktowy Canona to już raczej tak podpada pod pomiar centralny - w XXD 3.8% i w XXXD 4%, Canon tu się chyba nie ma czym szczycić, czy taki problem jest zrobić pomiar punktowy np: 2% tak jak to jest w D90 (już nie mówiąc że tam jest taki dla dowolnego punktu AF) Kocur - Pią 24 Kwi, 2009 W tej kwestii, tak samo jak w kwestii krycia kadru w wizjerze i kompensacji ekspozycji Canon niestety jest sporo za konkurencją. Chociaż to dziwne, że Nikon może zrobić pomiar punktowy 2,5% w D5000, a Canon w 50D nie dał rady
jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009
Ludzie, rozwodzicie się nad czymś, co działa zupełnie inaczej, niż Wam się wydaje... 
Pomiar matrycowy, jak już zresztą wielokrotnie pisałem, nie ma wiele wspólnego z pozostałymi. Wzór pokrywający pole pomiarowe, traktowany jest jako uproszczona "fotografia". Pomiar wykonywany jest we wszystkich polach na raz i porównywany w locie z bazą danych paramerów ekspozycji wybranych dla danej "sceny" jako "wzorcowe". Im więcej danych dla tej uproszczonej "sceny", czyli im więcej pól pomiarowych, i im wieksza baza danych, tym bardziej trafny może być dobór odpowiednich parametrów naświetlania. Przywiązanie wagi do aktywnego pola AF, pozwala po prostu na łatwiejsze zlokalizowanie odpowiedniego schematu sceny i dobranie odpowiednich parametrów z wiekszą dozą prawdopodobieństwa. novy - Sob 25 Kwi, 2009 jaad75, szczerze mówiąc to nie powiedziałeś nic co by mnie zaskoczyło.Wiadomo że taki pomiar nie jest równo znaczny z pomiarem centralnym czy centralnie ważonym przesuniętym do aktywnego AF. Staramy się tylko z grubsza ocenić działanie tego pomiaru, wiadomo że jest on w rzeczywistości bardziej skomplikowany. kozidron - Sob 25 Kwi, 2009
też gdzieś wyczytałem, że w "puszce" znajduje się parę tysięcy wzorców ( w zależności od modelu, więcej lub mniej) które porównywane i przyporządkowywane są do sytuacji, w której akurat się znajdujemy - "jako szablony", bodajże na stronie kodaka ...... Kocur - Sob 25 Kwi, 2009 jaad75, ja nie mam pojęcia, jak to działa Przeprowadziłem tylko obserwację zachowania aparatu i zauważyłem prawidłowość, która opisałem wyżej. Bardzo możliwe, że jest to czysty przypadek, że czasy podawane przez aparat w przypadku pomiaru skupionego, oraz pomiaru matrycowego w połączeniu z punktem AF się pokrywają, lub w znacznej mniejszości przypadków różnią maksymalnie o 1/3EV. Jak jest naprawdę, trzeba by zapytać kogoś w Canonie
jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009 novy, no to właśnie piszę, że cały segment pod polem AF jest brany pod uwagę, jako ten, w którym znajduje się "temat". Następnie, cały wzór jest porównany z bazą wzorów i zostaje wybrana wzorcowa ekspozycja, dla najbardziej podobnego schematu. Kocur - Sob 25 Kwi, 2009 Tyle że to nie odpowiada na pytanie
Bo tego jak duży jest obszar brany pod uwagę nie wiemy. Może to jest tyle co punkt AF, może więcej, może mniej...  Bo resztę chyba udało się ustalić
novy - Sob 25 Kwi, 2009 kozidron, Też już o tym czytałem ale to dotyczy pomiaru czysto matrycowego, sprawa pomiaru matrycowego w powiązaniu z aktywnym punktem AF już nie jest moim zdaniem taka oczywista. Mimo że uznaje to za wysoce prawdopodobne, że jest to skomplikowany mechanizm używający bazy danych to zapytam: Gdzie tak jest napisane? Skąd wiadomo że akurat w takim przypadku nie działa to w sposób zbliżony do pomiaru centralnie ważonego uśrednionego (gdzie jako centrum uznawany jest aktywny punkt AF)? jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009 Kocur, widziałeś kiedyś schemat pól pomiarowych? Tak to wygląda np. w moim aparacie: 
Aparat mierzy natężenie światła w każdym segmencie i dostaje coś w rodzaju uproszczonego zdjęcia, które porównuje z bazą danych. novy - Sob 25 Kwi, 2009
Beznadziejny ten pomiar
Czyli w pomiarze tak naprawdę biorą udział wszystkie segmenty, ale ten w którym znajduję się aktywny AF ma największy priorytet, i to wszystko jeszcze jest porównywane z jakąś bazą wzorców? Ale hard-core
[ Dodano: Sob 25 Kwi, 2009 00:37 ] jaad75, A jaki masz aparat? Bo w Canonie to jest chyba 35 segmentów. jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009
K10D
Pomiar wykonywany jest po to, żeby powstał schemat, takie niby zdjęcie, i dopiero to "zdjęcie" jest porównywane z innymi "niby zdjeciami", a parametry ekspozycji zrzynane sa z najbardziej podobnego... To zwykłe małpowanie, a nie fotografowanie...
Kocur - Sob 25 Kwi, 2009 jaad75, podstawy działania pomiaru światła to znam W matrycowym wszystkie pola mają jednakową wagę, ale po powiązaniu z punktem AF już nie. I tutaj pojawia się kłopot, bo nadal nie wiemy:
1. Jaka jest waga pola pod punktem AF (skąd wiemy, że nie jest to 100%, a pozostałych 0)? 2. Czy większa wagę ma tylko jedno pole, czy może zmienia się także waga pól przyległych, a może jeszcze innych? Zdaje się, że pierwszy post można sprowadzić do odpowiedzi na te dwa pytania. IMO wnikanie w to z jakimi wzorcami jest to porównywane nie ma znaczenia, bo interesuje nas wyłącznie jaka waga jest przypisywana jakim obszarom w otoczeniu wybranego punktu AF. Poza tym nie wydaje mi się, żeby wartości te zmieniały się w zależności od tego co odczyta procesor ze wskazań poszczególnych pól, zmienia się jedynie końcowy efekt, jakim są parametry ekspozycji, ale algorytm odczytu jest stały. Tak mi się przynajmniej wydaje....
jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009 Kocur, dalej nie rozumiesz... To pole, które jest pod aktywnym punktem AF jest traktowane priorytetowo, czyli ten obszar jest potraktowany, jako ten, w którym znajduje się temat, a następnie w bazie danych wyszukiwany jest podobny wzór jasności pól, z tematem w tym miejscu i wybierana ekspozycja przypisana do takiego wzoru. novy - Sob 25 Kwi, 2009 jaad75, Czyli to wzorcowe psełdo-zdjęcie składa się z tylu obszarów ile jest segmentów? A wiesz ile baza danych zawiera takich wzorców? (wiem że to i tak nie zmienia faktu że to małpowanie) jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009
Dokładnie tak.
Na pewno im więcej pól, tym więcej kombinacji i zapewne im bardziej skomplikowany system pól, tym wiecej "zdjęć" w bazie. Czytałem o kilku tysiącach, ale pewnie może się to bardzo różnić w zależności od stopnia zaawansowania systemu. Kocur - Sob 25 Kwi, 2009 OK, zdaje się, że znalazłem coś na ten temat i doznałem oświecenia
"W każdym z tych pól dokonywany jest pomiar światła i następnie te dane spływają do komputera, który według specjalnych algorytmów analizuje zebrane dane, dokonuje uśrednienia i podaje wynik w postaci parametrów ekspozycji. I tu warto sie zatrzymać na dłużej, gdyż to jest ten moment, gdzie zauważymy różnicę w stosunku do pozostałych pomiarów. Mianowicie w pomiarach punktowym, selektywnym i centralnie ważonym następowało proste uśrednienie zebranej informacji przez czujnik. Natomiast w pomiarze matrycowym dokonywana jest analiza. Pola pomiarowe nie są równo cenne i może zostać im przypisana różna waga, co więcej niektóre z ich mogą zostać odrzucone, a inne mogą mieć decydujące znaczenie. W najbardziej zaawansowanych pomiarach matrycowych do obliczeń wykorzystuje się szereg danych dodatkowych, takich jak informacje, w którym polu znajduje się punkt ostrości (co powoduje, że automatycznie to pole staje się niejako wzorcem), dokonywany jest ogólny pomiar kontrastu sceny (rozpiętości tonalnej), niektóre z nich wykorzystują także dane na temat temperatury barwowej światła. Bardziej zaawansowane analizują zdjęcie i porównują mierzoną scenę z bazą scen wzorcowych." żródło: http://www.fotal.pl/artyk...2_doc12571.html Czyli z tego wniosek taki, że wybierając punkt AF decydujemy sami który punkt zdjęcia ma być traktowany jako wzorzec i parametry zostaną dobrane tak, żeby wybrany obszar był odpowiednio naświetlony przy zachowaniu możliwie dobrego naświetlenia reszty zdjęcia. Tylko teraz pytanie, co jeśli nie wybierzemy punktu AF? Zgodnie z powyższym rozumiem, że jeśli AF złapie ostrość np. na trzech punktach, to wszystkie one staną się wzorcowymi i aparat tak dobierze parametry, żeby zachować najlepsze naświetlenie tych stref? Popraw mnie jeśli znowu coś pokręciłem
Ale jeśli tak, to z tego by wynikało, że nawet jeśli znamy zasadę działania, to i tak nie da się określić powierzchni kadru jaka jest brana pod uwagę, bo to się zmienia wraz z warunkami i zawsze może się zdarzyć niespodzianka, że komputer zdecyduje inaczej niż byśmy tego oczekiwali. Chociaż z moich obserwacji wynikało by, że zachowanie będzie podobne jak przy pomiarze skupionym, to i tak nadal jest to pomiar nieprzewidywalny i nigdy nie wiadomo, kiedy wytnie jakiś numer
jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009
To brzmi, jakby sprawa była bardzo skomplikowana - do porównywania ze wzorcem, wcale nie potrzeba jakiś kosmicznych algorytmów...
Wciąż dostaniesz jakiś wzór plam (nasze pseudo-zdjęcie) i będzie zapewne podobne do któregoś w bazie, więc aparat skopiuje jego ekspozycję...
Tak, te strefy uznane zostaną za priorytetowe i aparat wyszuka "zdjęcie", w którym wystąpiła najbardziej podobna sytuacja.
Dokładnie tak. Do tego cały czas zmierzam...
Może się sprawdzić bardzo dobrze, ale raczej w sytuacjach typowych, bo tylko taki ma zbiór danych. Jerry_R - Sob 25 Kwi, 2009 Kocur, ale po co tyle dewagowac, jak mozesz w bardzo prosty sposob sprawdzic sam. Wlacz LV i upewnij sie, ze masz wybrana symulacje ekspozycji. Wybierz scene gdzie jest troszke cienia i np. wlaczona lampa. A nastepnie pojezdzij punktem AF po ekranie i poobserwuj. Typ pomiaru masz tutaj zawsze wielosegmentowy i od razu widzisz rezultaty pomiaru, bez zgadywania. jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009 Jerry_R, pomiar światła przy LV nie ma wiele wspólnego z normalnym trybem matrycowym/wielosegmentowym, bo lustro jest uniesione...
Chociaż oczywiście jest możliwym, że stosowany jest ten sam schemat i baza danych... Jerry_R - Sob 25 Kwi, 2009 Hmm... Nie bylbym do konca pewien. Korzystajac z LV ma sie wiele wiecej punktow AF dostepnych, w zasadzie moze krazyc po prawie calym kadrze. I to realnie wplynie na ekspozycje. Nie da sie tego porownac z "normalnym trybem". Ale pozostawiajac AF w samym centrum - mozna zrobic porownanie. Niech Kocur moze zrobi test na 50D i da znac: - wlaczac i wylaczac LV. I porownac parametry ekspozycji. AF centralny. W trybie "normalnym" - pomiar wielosegmentowy. jaad75 - Sob 25 Kwi, 2009 Chodzi mi o to, że w normalnym trybie pracuje układ odczytujący światło z matówki, a w trybie LV, światło jest mierzone na matrycy... Kocur - Sob 25 Kwi, 2009 Jerry_R, przeczytaj drugi z moich postów w tym temacie, sprawdziłem mniej więcej w ten sam sposób, o którym piszesz, tyle że używając wizjera. Chodziło o to, żeby sprawdzić jak się to ma do pozostałych rodzajów pomiaru światła, a niestety na LV nie ma jak porównać, bo z czym Mogę zrobić porównanie, czy na LV i normalnie pokazuje te same parametry ekspozycji, ale to wieczorem, bo potrzebuję do tego ciemności w pokoju
kozidron - Sob 25 Kwi, 2009
novy, wiem gdzie to przeczytałem, niestety na fotopolis i nie sprawdziłem tego w innym źródle więc informacja nie potwierdzona, było tam coś o naukowcach laboratorium kodaka, którzy przygotowują takie wzorce-schematy do bazy danych puszki, która podczas dokonywania pomiaru dobiera do danej sceny odpowiedni wcześniej "zaprojektowany" schemat. Tu jakby, jaad75 widzę wyjaśnił to lepiej ....tylko to małpowanie to chyba odnosi się gdy walimy na zielonym prostokącie, korzystając z pomiaru, lub jeżeli bezwzględnie stosujemy się w innych trybach do drabinki i "ustawiamy się na jej środku" podczas tego małpio matrycowego pomiaru
krisv740 - Sob 25 Kwi, 2009 w związku z tym, że jaad w zasadzie wszystko wyjaśnił ja tylko zamieszczę zdjęcie przedstawiające to w eos3 i zasadę pomiaru dla określonego pola AF przy pomiarze matrycowym; 
jak widać inne pola/plastry/ dla czujnika AF są determinjące przy pomiarze ekspozycji. jedyny problem to brak znajomości algorytmu tego pomiaru i wynikający z tego kłopot przy korekcji ekspozycji. inaczej wygląda to np. przy pomiwrze częściowym. akurat w eos3 zaangażowanych jest pięć pól /dla czujnika środkowego. w tym pomiarez korekta ekspozycji jest dużo łatwiejsza do wykonania/ocenienia; 
myślę ,że te przykłady i wypowiedź jaad wyczerpują w jakimś sensie temat 
novy - Sob 25 Kwi, 2009 Dzięki wszystkim, myślę że temat został rozpracowany
komor - Pon 27 Kwi, 2009 Ja tylko dodam, że w obrębie rodziny Canona algorytmy na pewno różnią się, bo pamiętam, że stosując pomiar matrycowy w 400D częściej musiałem korzystać z kompensacji ekspozycji niż obecnie w 40D. Może wyższe modele mają większą bazę tych wzorcowych „zdjęć”. SlawGaw - Pon 27 Kwi, 2009 Przeczytałem wszystkie posty w tym temacie i wkradło się tutaj małe uproszczenie myślowe, otóż pomiar matrycowy nie polega na wyborze ekspozycji według wzorca, ale wzorce zawierają wagi dla poszczególnych pól, potrzebne do uśrednienia pomiaru, więc wygląda to tak mierzymy światło, odczytywana jest wartość oświetlenia w każdym polu, następuje porównanie z wzorcem, przypisanie wag dla każdego pola pomiarowego, według wybranego wzorca, wyliczenie ekspozycji. krisv740 - Pon 27 Kwi, 2009 pomiar matrycowy nie polega na uśrednieniu pomiaru. jest to zaprogramowany algorytm dla określonych wartości na określonych polach ze szczególnym uwzględnieniem aktualnego/używanego pola AF. to o czym piszesz to raczej odnosi się do pomiaru centralnie ważonego....
SlawGaw - Pon 27 Kwi, 2009 krisv740, nie zrozumienie mojej wypowiedzi. Otóż w pomiar centralnie ważony - to wagi przypisane na stałe konkretnym polom pomiarowym, centralnie bo centralne pola więcej ważą przy uśrednianiu i to się nie zmienia. W pomiarze matrycowym wagi przypisywane poszczególnym polom są zmienne w zależności od wybranego wzorca, wzorców jest dużo i zapewne jeden z takich wzorców będzie odpowiadał pomiarowi centralnie ważonemu. Wzorce są wybierane na podstawie różnych czynników, brany jest pod uwagę nie tylko rozkład oświetlenia, ale także jak piszesz wybrany czujnik AF, zapewne w tym jest jeszcze użyta ogniskowa, ustawiona odległość, użycie lampy błyskowej i to chyba jeszcze nie wszystko. Po prostu wzorce zamierają różne kompilacje wag przypisywanych do poszczególnych pól pomiarowych. komor - Pon 27 Kwi, 2009 SlawGaw pisze dość sensowne rzeczy, bo przecież przy zadanej scenie (czyli jednym schemacie/wzorcu) może być w różnych sytuacjach po prostu różny poziom natężenia światła (bo słońce, bo chmury, itd.), stąd rzeczywiście może być tak, że baza wzorców składa się z kompilacji wag, a nie konkretnych wartości pomiarowych. krisv740 - Pon 27 Kwi, 2009 SlawGaw, komor, a gdzie jest uśrednienie jeśli nie przy pomiarze centralnie ważonym? pomiar matrycowy nie uśrednia , tylko dobiera wzorzec do konkretnych nastaw /tak jak to opisał SlawGaw, / ale nie uśrednia 
panowie , nie mylmy wyciąganuia średniej z zaprogramowaną krzywą jak sorry za porównanie - mapa bitowa zapłonu w samochodzie z wtryskiem paliwa /elektronicznym - jeśli ktoś jest bardzo dzociekliwy /
uśrednienie to jest właśnie domena pomiaru centralnie ważonego , w którym wystepuje praktycznie jeden algorytm naświetlania... dlatego przy tym pomiarze łatwo można ustawić kompensację naświetlania , a już przy pomiarze matrycowym jest to bardzo trudne , bo nie zanmy zależności zmiennych tego systemy , i każde przesunięcie aparatu /zmiana danych z jednego klastra pomiarowego/ może wpłynąć w nieznany na sposób na wynik końcowy....
bardzo fajnie jest to właśnie opisane w zamieszczonej przeze mnie powyżej ,w wyjątkach książeczce o eos'ie 3. SlawGaw - Pon 27 Kwi, 2009 krisv740, są różne metody uśredniania, jest średnia arytmetyczna, jest średnia ważona i zapewne jeszcze jakieś.
Dokładnie, a w pomiarze matrycowym jest tych algorytmów wiele, nie wiemy który jest akurat zastosowany i jaką metodą uśrednia pomiar, nie wiemy z których pól pomiarowych bierze dane, czy tylko z jednego, czy z części, czy z wszystkich, no i nie wiemy jakie przypisuje im wagi. Aparat wybiera sobie wzorzec jaki mu tam pasuje. krisv740, komor zrozumiał o co mi chodzi, jeśli ty nie, to nie musisz się w to wgłębiać, gdyż to uproszczone zrozumienie pomiaru matrycowego, jakie proponował w swoich pierwszych postach jaad75 jest wystarczające do poprawnego posługiwania się nim. krisv740 - Pon 27 Kwi, 2009 SlawGaw, doskonale rozumiem co to jest uśrednianie pomiaru...
nie rozumiem tylko chęci do "uśredniania wszytkiego"
dlaczego mam uśredniać coś , co de facto nie jest uśrednieniem, ale algorytmem z wielu pól pomiarowych? pewnie ,że dla ułatwienia można to nazwać "uśrednieniem" , ale równie dobrze można to nazwać "wymyśłem canona" , a w wypadku innych marek "wymysłem ....." /w kropki wpisz marke sprzętu" a jeśli już o innym sprzęcie rozmawiamy..., to inne firmy maja inną średnią? bo mogę się założyć, że jeśli w tych samych warunkach będę naświetlał aparatem dwóch różnych producentów to wyniki jednak będa się różnić. tak jak pomiędzy poszczególnymi modelami canona. więc ..... różna średnia popdobnech pomiarów?
ale , jeśli chcesz to nazywać uśrednieniem, to proszę bardzo... zmiany w naświetlaniu to nie spowoduje....
ja parcia na jedynie słuszne nazewnictwo nie mam /na szczęście/
[ Dodano: Pon 27 Kwi, 2009 19:15 ] i jeszcze jedno.... jeśli powołujesz sie na jaad'a , to przeczytaj jego post dokładnie. pisze, bardzo słusznie zresztą,że pomiar matrycowy jest zapisaną właśnie "mapą " do której porównywane są wyniki pomiaru i do tego dobierany jest odpowieni stosunek przysłona/migawka/iso i co tam ewentualnie producent sobie jeszcze wymyślił....
SlawGaw - Pon 27 Kwi, 2009 krisv740, ja na ten temat nie mam już nic do dodania, jedynie mogę jeszcze napisać że pomiar matrycowy wymyślił i zastosował pierwszy Nikon w lustrzance FA z 1983 i to jeszcze bez AF. Niżej podaje link na stronkę, gdzie jest ładnie napisane o co chodzi w pomiarze matrycowym i jest tam używane słowo uśredniać, które tobie wiąże się tylko z pomiarem centralnie ważonym. http://www.fotal.pl/artyk...2_doc12571.html komor - Sro 29 Kwi, 2009 krisv740, ale SlawGaw nic nie napisał o uśrednianiu w kontekście pomiaru matrycowego. Popatrz: W pomiarze matrycowym wagi przypisywane poszczególnym polom są zmienne w zależności od wybranego wzorca, wzorców jest dużo i zapewne jeden z takich wzorców będzie odpowiadał pomiarowi centralnie ważonemu. . Więc myślę, że wszyscy mamy na myśli dokładnie to samo, czyli baza wzorców, ale nie z konkretnymi wartościami EV, tylko stosunkami między jasnością poszczególnych pól. Zgoda?
krisv740 - Sro 29 Kwi, 2009 komor,
nie kłócę sie o meritum sprawy, tylko zwracam uwagę na szczegół. SlawGaw, na pewno rozumie o co mi chodzi, a dodatkowo rozumie zasadę działania pomiaru matrycowego. nie możemy jednak pisać o uśrednieniu pomiaru w tym wypadku, bo jeśli chcielibyście popatrzyć na programy tematyczne np w canonie to wszystkie one są oparte o pomiar matrycowy i nie występuje w nich żadne uśrednianie pomiaru, a odwołanie do zadanych parametrów naświetlania dla określonego motywu. podobnie rzecz się ma przy uzywaniu pomiaru matrycowego przy pomiarach A,T,M,P z tym, że najprawdopodobniej alortymy sa już zupełnie inaczej ustawione. summa summarum- napisaliśmy 4 strony postów na temat wyjaśniony juz na pierwszej stronie wątku....
SlawGaw - Sro 29 Kwi, 2009 krisv740, nadal nie rozumiesz o co mi chodzi, ale nie jest to tobie potrzebne, pomiar matrycowy jest wymyślony dla tych co nie chcą myśleć o tym jak naświetlić, więc użycie jego nie wymaga od użytkownika rozumienia co się tam dzieje. Wyobraź sobie aparat, który ma 1000 różnych sposobów pomiaru światła, nie tylko punktowy i centralnie ważony, i sam sobie wybiera który sposób mu pasuje, to jest właśnie pomiar matrycowy, a wzorzec to jeden ze sposobów pomiaru światła. To też jest uproszczenie, ale chyba bardziej trafne.
Dokładnie brak tego określenia w poprzednich postach skłonił mnie do wypowiedzi. komor, pełna zgoda. krisv740 - Sro 29 Kwi, 2009 SlawGaw, doskonale rozumiem.......
wyobraź sobie,że mam taki chrakter,że rozumiem wszystkich , tylko nie koniecznie muszę się zgadzać z ich zdaniem - mogę - nie? a jesli chodzi o zasadę pomiaru matrycowego to przeczytaj dokładnie moje piersze posty i zobacz czy różnia sie od tego co ty piszesz? nie chcesz przyjąć racji innych niż swoje - ok! ja kończę , bo nie ma chyba sensu abysmy w kółko o tym samym pisali...
SlawGaw - Sro 29 Kwi, 2009 krisv740, tez nie che mi się już pisać na ten temat, tym bardziej że do twoich wcześniejszych postów nie miałem zastrzeżeń.
ten szczegół to użycie przeze mnie słowa "uśrednia" odnośnie pomiaru matrycowego i tak naprawdę nie przedstawiłeś żadnego argumentu który obala moją tezę, wymieniałeś tylko że jest to domena pomiaru centralnie ważonego, co jest oczywiste, ale nie sprzeczne z moją wypowiedzią. Za to:
Ten zaprogramowany algorytm - właśnie uśrednia pomiar metodą która jest dla nas nieodgadniona, nie wiemy z ilu czujników bierze pomiar i jakie przypisuje im wagi. Jedna z takich możliwości pomiaru to jest wzorzec. Może jeszcze inaczej: 1. wzorzec jest wybierany na podstawie rozkładu naświetlenia kadru i innych czynników w tym AF, 2. wzorzec zawiera wagi przypisane konkretnym polom pomiarowym, jedno pole jest istotne ma większą wagę inne pole jest pomijane, a jeszcze inne ledwo co brane pod uwagę. 3. Następuje uśrednienie - wyliczenie średniej ważonej z wszystkich pól pomiarowych z braniem pod uwagę przypisanych im wag (czyli istotności), np pole z wagą 0 nie jest brane pod uwagę, wynik - ekspozycja. Jeśli nadal będziesz pisał, że pomiar matrycowy nie uśrednia i koniec, to ja już tego nie skomentuję, gdyż się już tylko powtarzam. krisv740 - Sro 29 Kwi, 2009
wszystkoco napisałeś oprócz tego zdania jest jak najbardziej zasadne i właściwe, natomiast cytowana przeze mnie twoja wypowiedź .............
jeśli chcesz tak to ująć -proszę bardzo - nie jest to właściwe /tak ,będę się trzymał tego określenia i stanowiska/ , ale .... masz takie prawo...
dlaczego ? też po raz ostatni napiszę to , ale co tam... mam chwlkę czasu, chory jestem, grypa mnie dobija, mogę stracić trochę czasu... 
pomiar matrycowy, jest jak mapa zapłonu i wtrysku paliwa w samochodzie - przepraszam za to porównanie , ale uważam- jest najbliższe i akurat dokładnie mi znane...
w przypadku czegoś takiego nie można mówić o uśrednianiu, ale o doborze odpowiednich parametrów do wartości otrzymanych z czujników umieszczenych tak na silniku jak w samochodzie. czy wystepuje odniesienie do pomiaru ekspozycji w aparacie? moim zdaniem jak najbardziej
czy w przypadku tak wielu zmiennych możemy mówić o uśrednianiu? obawiam się,że raczej nie, choć oczywiście dla pewnego rodzaju wartości, parametry regulacyjne/sterujące wygenerowane przez moduł mogą się pokrywać, ale czy jest to uśrednienie? ok. fajnie , a moją "tyradę" zakończę optymistycznie - nie dajcie się świńskiej grypie
mam nadzieję , że ja jej nie mam -tylko normalną....
pozdrawiam serdecznie................
|
