forum.optyczne.pl

[Kocur]

jaad75, ja nie mam pojęcia, jak to działa Przeprowadziłem tylko obserwację zachowania aparatu i zauważyłem prawidłowość, która opisałem wyżej. Bardzo możliwe, że jest to czysty przypadek, że czasy podawane przez aparat w przypadku pomiaru skupionego, oraz pomiaru matrycowego w połączeniu z punktem AF się pokrywają, lub w znacznej mniejszości przypadków różnią maksymalnie o 1/3EV. Jak jest naprawdę, trzeba by zapytać kogoś w Canonie

[jaad75]

novy, no to właśnie piszę, że cały segment pod polem AF jest brany pod uwagę, jako ten, w którym znajduje się "temat". Następnie, cały wzór jest porównany z bazą wzorów i zostaje wybrana wzorcowa ekspozycja, dla najbardziej podobnego schematu.

[Kocur]

Tyle że to nie odpowiada na pytanie

[novy]

kozidron, Też już o tym czytałem ale to dotyczy pomiaru czysto matrycowego, sprawa pomiaru matrycowego w powiązaniu z aktywnym punktem AF już nie jest moim zdaniem taka oczywista. Mimo że uznaje to za wysoce prawdopodobne, że jest to skomplikowany mechanizm używający bazy danych to zapytam: Gdzie tak jest napisane? Skąd wiadomo że akurat w takim przypadku nie działa to w sposób zbliżony do pomiaru centralnie ważonego uśrednionego (gdzie jako centrum uznawany jest aktywny punkt AF)?

[jaad75]

Kocur, widziałeś kiedyś schemat pól pomiarowych? Tak to wygląda np. w moim aparacie:

Aparat mierzy natężenie światła w każdym segmencie i dostaje coś w rodzaju uproszczonego zdjęcia, które porównuje z bazą danych.

[novy]

Cytat:

novy, no to właśnie piszę, że cały segment pod polem AF jest brany pod uwagę, jako ten, w którym znajduje się "temat". Następnie, cały wzór jest porównany z bazą wzorów i zostaje wybrana wzorcowa ekspozycja, dla najbardziej podobnego schematu.

Beznadziejny ten pomiar

Czyli w pomiarze tak naprawdę biorą udział wszystkie segmenty, ale ten w którym znajduję się aktywny AF ma największy priorytet, i to wszystko jeszcze jest porównywane z jakąś bazą wzorców? Ale hard-core

[ Dodano: Sob 25 Kwi, 2009 00:37 ]
jaad75, A jaki masz aparat? Bo w Canonie to jest chyba 35 segmentów.

[jaad75]

[Kocur]

jaad75, podstawy działania pomiaru światła to znam W matrycowym wszystkie pola mają jednakową wagę, ale po powiązaniu z punktem AF już nie. I tutaj pojawia się kłopot, bo nadal nie wiemy:
1. Jaka jest waga pola pod punktem AF (skąd wiemy, że nie jest to 100%, a pozostałych 0)?
2. Czy większa wagę ma tylko jedno pole, czy może zmienia się także waga pól przyległych, a może jeszcze innych?
Zdaje się, że pierwszy post można sprowadzić do odpowiedzi na te dwa pytania. IMO wnikanie w to z jakimi wzorcami jest to porównywane nie ma znaczenia, bo interesuje nas wyłącznie jaka waga jest przypisywana jakim obszarom w otoczeniu wybranego punktu AF. Poza tym nie wydaje mi się, żeby wartości te zmieniały się w zależności od tego co odczyta procesor ze wskazań poszczególnych pól, zmienia się jedynie końcowy efekt, jakim są parametry ekspozycji, ale algorytm odczytu jest stały. Tak mi się przynajmniej wydaje....

[jaad75]

Kocur, dalej nie rozumiesz... To pole, które jest pod aktywnym punktem AF jest traktowane priorytetowo, czyli ten obszar jest potraktowany, jako ten, w którym znajduje się temat, a następnie w bazie danych wyszukiwany jest podobny wzór jasności pól, z tematem w tym miejscu i wybierana ekspozycja przypisana do takiego wzoru.

[novy]

jaad75, Czyli to wzorcowe psełdo-zdjęcie składa się z tylu obszarów ile jest segmentów? A wiesz ile baza danych zawiera takich wzorców? (wiem że to i tak nie zmienia faktu że to małpowanie)

[jaad75]

[Kocur]

OK, zdaje się, że znalazłem coś na ten temat i doznałem oświecenia

"W każdym z tych pól dokonywany jest pomiar światła i następnie te dane spływają do komputera, który według specjalnych algorytmów analizuje zebrane dane, dokonuje uśrednienia i podaje wynik w postaci parametrów ekspozycji. I tu warto sie zatrzymać na dłużej, gdyż to jest ten moment, gdzie zauważymy różnicę w stosunku do pozostałych pomiarów. Mianowicie w pomiarach punktowym, selektywnym i centralnie ważonym następowało proste uśrednienie zebranej informacji przez czujnik. Natomiast w pomiarze matrycowym dokonywana jest analiza. Pola pomiarowe nie są równo cenne i może zostać im przypisana różna waga, co więcej niektóre z ich mogą zostać odrzucone, a inne mogą mieć decydujące znaczenie.
W najbardziej zaawansowanych pomiarach matrycowych do obliczeń wykorzystuje się szereg danych dodatkowych, takich jak informacje, w którym polu znajduje się punkt ostrości (co powoduje, że automatycznie to pole staje się niejako wzorcem), dokonywany jest ogólny pomiar kontrastu sceny (rozpiętości tonalnej), niektóre z nich wykorzystują także dane na temat temperatury barwowej światła. Bardziej zaawansowane analizują zdjęcie i porównują mierzoną scenę z bazą scen wzorcowych."

żródło: http://www.fotal.pl/artyk...2_doc12571.html

Czyli z tego wniosek taki, że wybierając punkt AF decydujemy sami który punkt zdjęcia ma być traktowany jako wzorzec i parametry zostaną dobrane tak, żeby wybrany obszar był odpowiednio naświetlony przy zachowaniu możliwie dobrego naświetlenia reszty zdjęcia.

Tylko teraz pytanie, co jeśli nie wybierzemy punktu AF? Zgodnie z powyższym rozumiem, że jeśli AF złapie ostrość np. na trzech punktach, to wszystkie one staną się wzorcowymi i aparat tak dobierze parametry, żeby zachować najlepsze naświetlenie tych stref? Popraw mnie jeśli znowu coś pokręciłem

Ale jeśli tak, to z tego by wynikało, że nawet jeśli znamy zasadę działania, to i tak nie da się określić powierzchni kadru jaka jest brana pod uwagę, bo to się zmienia wraz z warunkami i zawsze może się zdarzyć niespodzianka, że komputer zdecyduje inaczej niż byśmy tego oczekiwali. Chociaż z moich obserwacji wynikało by, że zachowanie będzie podobne jak przy pomiarze skupionym, to i tak nadal jest to pomiar nieprzewidywalny i nigdy nie wiadomo, kiedy wytnie jakiś numer

[jaad75]

[Jerry_R]

Kocur, ale po co tyle dewagowac, jak mozesz w bardzo prosty sposob sprawdzic sam. Wlacz LV i upewnij sie, ze masz wybrana symulacje ekspozycji. Wybierz scene gdzie jest troszke cienia i np. wlaczona lampa. A nastepnie pojezdzij punktem AF po ekranie i poobserwuj. Typ pomiaru masz tutaj zawsze wielosegmentowy i od razu widzisz rezultaty pomiaru, bez zgadywania.

[jaad75]

Jerry_R, pomiar światła przy LV nie ma wiele wspólnego z normalnym trybem matrycowym/wielosegmentowym, bo lustro jest uniesione...
Chociaż oczywiście jest możliwym, że stosowany jest ten sam schemat i baza danych...